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Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)

Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)

Kategorien Vorträge/Konferenzbeiträge
Jahr 2014
Autoren C. Walther
Veröffentlicht in Aufbereitung von Wasserproben und Nachweis von Radionukliden in Wasserproben, Karlsruhe, 26.11.2014