Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)
| Kategorien |
Vorträge/Konferenzbeiträge |
| Jahr | 2014 |
| Autoren | C. Walther |
| Veröffentlicht in | Aufbereitung von Wasserproben und Nachweis von Radionukliden in Wasserproben, Karlsruhe, 26.11.2014 |
Beschreibung
