Messunsicherheiten und Charakteristische Grenzen nach DIN und ISO als Grundlage der Qualitätssicherung
| Categories |
Veröffentlichungen |
| Year | 2002 |
| Authors | R. Michel |
| Published in | in : R. Michel, M. Täschner, A. Bayer (Hrsg.) Praxis des Strahlenschutzes: - Messen, Modellieren, Dokumentieren -, Tagungsband der 34. Jahrestagung des Fachverbandes für Strahlenschutz e.V., Kloster Seeon, 21. 25. April 2002, TÜV-Verlag, Köln (2002) 81 - 88 |
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