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Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)

Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)

Categories Talks/Conference contributions
Year 2014
Authors C. Walther
Published In Aufbereitung von Wasserproben und Nachweis von Radionukliden in Wasserproben, Karlsruhe, 26.11.2014