Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)
Categories |
Vorträge/Konferenzbeiträge |
Year | 2014 |
Authors | C. Walther |
Published In | Aufbereitung von Wasserproben und Nachweis von Radionukliden in Wasserproben, Karlsruhe, 26.11.2014 |
Description