Hochaufgelöste Oberflächenanalytik an plutoniumhaltigen Proben mit Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)
Kategorien |
Vorträge/Konferenzbeiträge |
Jahr | 2014 |
Autorinnen/Autoren | C. Walther |
Veröffentlicht in | Aufbereitung von Wasserproben und Nachweis von Radionukliden in Wasserproben, Karlsruhe, 26.11.2014 |
Beschreibung